X射線測厚儀是一種利用X射線穿透材料并在探測器上記錄其衰減來計算材料厚度的儀器。它廣泛應用于工業(yè)生產(chǎn)、科學研究和質(zhì)量檢測等領(lǐng)域,是實現(xiàn)高精度厚度測量的重要工具。X射線測厚儀的工作原理是利用X射線穿透被測物體時,X射線的強度變化與材料的厚度相關(guān)的特性。當X射線穿過被測物體后,部分能量會被吸收,剩下的能量會以二次發(fā)射的形式回到探測器。通過對這些發(fā)射能量的分析,可以計算出被測物體的厚度。
在隔膜材料的測量中,X射線測厚儀同樣適用。例如,鋰電池隔膜的面密度(單位面積的重量)可以通過超軟X射線進行非接觸式在線檢測。這種超軟X射線的能量低于5KeV,屬于安全、環(huán)保的輻射水平,符合《GB18871-2002電離輻射防護與輻射源安全基本標準》的豁免要求。
X射線測厚儀在隔膜材料測量方面的應用特點包括:
此外,X射線測厚儀還具有用戶操作終端、冷卻系統(tǒng)、X射線發(fā)射源及接收檢測頭、主控制柜等組成部分,這些組件共同確保了測厚儀的高精度和高穩(wěn)定性。在隔膜材料的生產(chǎn)過程中,X射線測厚儀可以幫助制造商實現(xiàn)更精確的厚度控制,從而提高產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率。